Seica Deutschland partecipa al seminario organizzato da "Fraunhofer Institut Technology" il 3 marzo

Il 3 marzo Seica Deutschland partecipa al Seminario del Fraunhofer Institut Technology,

a Itzehoe nei pressi di Hamburg, dedicato a “Un-destroying Test Techniques”.

Titolo della presentazione:

“Real Integration between ATE Flying Prober and Boundary Scan Tester”.

(Questo approfondimento è già stato presentato brevemente durante Productronica

a Monaco lo scorso novembre)

Relatore Bernd Hauptmann

General Manager di Seica Germany

Programma completo

Per maggiori informazioni visitate il sito:

www.isit.fraunhofer.de